Hòstia solar monocristal·lina tipus M10

Mètode de creixement

CZ

Cristalinitat

Monocristal·lí

Tècniques preferents de gravat（ASTM F47-88）

Tipus de conductivitat

Tipus P

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

Bor, gal·li

-

Concentració d'oxigen [Oi]

≦8E+17 a / cm³

FTIR (ASTM F121-83)

Concentració de carboni [Cs]

≦5E+16 a / cm³

FTIR (ASTM F123-91)

Densitat de fossat de gravat (densitat de dislocació)

≦500 cm^-3

Tècniques preferents de gravat（ASTM F47-88）

Orientació superficial

& lt; 100> ± 3 °

Mètode de difracció de raigs X (ASTM F26-1987)

Orientació de pseudos costats quadrats

& lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 °

Mètode de difracció de raigs X (ASTM F26-1987)

Resistivitat

0,5-1,5 Ωcm

Sistema d’inspecció d’hòsties

MCLT (vida de la companyia minoritària)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(amb nivell d'injecció: 1E15 cm^-3)

Geometria

Quadrat complet

Hòstia Longitud lateral

182 ± 0,25 mm

sistema d’inspecció d’hòsties

Diàmetre de l’hòstia

φ247 ± 0,25 mm

sistema d’inspecció d’hòsties

Angle entre els costats adjacents

90° ± 0.2°

sistema d’inspecció d’hòsties

Gruix

180﹢20/﹣10 µm;

170﹢20/﹣10 µm

TTV (variació de gruix total)

≤27 µm

sistema d’inspecció d’hòsties

Mètode de tall

DW

--

Qualitat superficial

tallats i netejats, no hi ha contaminacions visibles (no s’admeten oli o greixos, empremtes digitals, taques de sabó, taques de purins, taques d’epoxi / cola)

sistema d’inspecció d’hòsties

Marques / passos de serra

≤ 15µm

sistema d’inspecció d’hòsties

Arc

≤ 40 µm

sistema d’inspecció d’hòsties

Ordit

≤ 40 µm

sistema d’inspecció d’hòsties

Xip

profunditat ≤0,3mm i longitud ≤ 0,5mm Màxim 2 / pcs; sense xip en V

Ulls nus o sistema d’inspecció d’hòsties

Micro esquerdes / forats

No permès

sistema d’inspecció d’hòsties