P Tipus 161.7mm Neula Solar Monocristal·lina

Mètode de creixement

Cz

Cristal·linitat

Monocristal·lina

Tècniques preferents de gravat（ASTM F47-88）

Tipus de conductivitat

Tipus P

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

Bor, Gal·li

-

Concentració d'oxigen[Oi]

≦8E+17 a/cm³

FTIR (ASTM F121-83)

Concentració de carboni[Cs]

≦5E+16 a/cm³

FTIR (ASTM F123-91)

Densitat de fossa de gravat (densitat de luxació)

≦500 cm^-3

Tècniques preferents de gravat（ASTM F47-88）

Orientació superficial

<100>±3°

Mètode de Difracció de raigs X (ASTM F26-1987)

Orientació dels costats pseudo quadrats

<010>,<001>±3°

Mètode de Difracció de raigs X (ASTM F26-1987)

Resistivitat

0.5-1.5 Ωcm

Sistema d'inspecció d'oblia

MCLT (vida portadora minoritària)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(amb nivell d'injecció: 1E15 cm^-3)

geometria

Quadrat quasi

Longitud lateral de l'oblia

161,7±0,25 mm

sistema d'inspecció d'oblia

Diàmetre de l'oblia

φ221±0,25 mm

sistema d'inspecció d'oblia

Angle entre costats adjacents

90° ± 0.2°

sistema d'inspecció d'oblia

espessor

180﹢20/﹣10 μm;

170﹢20/﹣10 μm

TTV (Variació total del gruix)

≤27 μm

sistema d'inspecció d'oblia

Mètode de tall

Dw

--

Qualitat superficial

com a tall i netejat, sense contaminació visible, (oli o greix, estampats amb dits, taques de sabó, taques de purí, taques d'epoxi / cola)

sistema d'inspecció d'oblia

Marques de serra / passos

≤ 15μm

sistema d'inspecció d'oblia

arc

≤ 40 μm

sistema d'inspecció d'oblia

ordit

≤ 40 μm

sistema d'inspecció d'oblia

xip

profunditat ≤0.3mm i longitud ≤ 0.5mm Max 2/pcs;   sense xip V

Ulls nus o sistema d'inspecció d'oblia

Micro esquerdes / forats

No permès

sistema d'inspecció d'oblia