Hòstia solar monocristal·lina tipus M12

Hòstia solar monocristal·lina tipus M12

El 2019 es van llançar les hòsties mono tipus M12 (210 mm x 210 mm) (lingot de silici de 295 mm de diàmetre). S’esperava que el format M2 de 6 ”(156,75 mm x 156,75 mm) fos col·locat per M12 i M6.
Share to
Enviar la consulta
Xateja ara
Descripció
Paràmetres tècnics


158.75mm Full Square Monocrystalline Solar Wafer 2


P type monocrystalline wafer 1


P type monocrystalline wafer 2


El 2019 es van llançar les hòsties mono tipus M12 (210 mm x 210 mm) (lingot de silici de 295 mm de diàmetre). S'espera que el format M2 de 6 "(156,75 mm x 156,75 mm) sigui col·locat per M12 i M6.


1 Propietats del material

Propietat

Especificació

Mètode d'inspecció

Mètode de creixement

CZ


Cristalinitat

Monocristal·lí

Tècniques preferents de gravatASTM F47-88

Tipus de conductivitat

Tipus P

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

Bor, gal·li

-

Concentració d'oxigen [Oi]

≦8E+17 a / cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Concentració de carboni [Cs]

5E+16 a / cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Densitat de fossat de gravat (densitat de dislocació)

500 cm-3

Tècniques preferents de gravatASTM F47-88

Orientació superficial

& lt; 100> ± 3 °

Mètode de difracció de raigs X (ASTM F26-1987)

Orientació de pseudos costats quadrats

& lt; 010> ;,< 001=""> ± 3 °

Mètode de difracció de raigs X (ASTM F26-1987)

2 Propietats elèctriques

Propietat

Especificació

Mètode d'inspecció

Resistivitat

0,5-1,5 Ωcm

Sistema d’inspecció d’hòsties

MCLT (vida de la companyia minoritària)

50 μs

Sinton BCT-400

(amb nivell d'injecció: 1E15 cm-3)

3Geometria

Propietat

Especificació

Mètode d'inspecció

Geometria

Quadrat complet


Hòstia Longitud lateral

210 ± 0,25 mm

sistema d’inspecció d’hòsties

Diàmetre de l’hòstia

95295 ± 0,25 mm

sistema d’inspecció d’hòsties

Angle entre els costats adjacents

90° ± 0.2°

sistema d’inspecció d’hòsties

Gruix

18020/10 µm;

17020/10 µm

sistema d’inspecció d’hòsties

TTV (variació de gruix total)

27 µm

sistema d’inspecció d’hòsties


210mmx210mm M12 monocrystalline silicon solar wafer

4 Propietats superficials

Propietat

Especificació

Mètode d'inspecció

Mètode de tall

DW

--

Qualitat superficial

tallats i netejats, no hi ha contaminacions visibles (no s’admeten oli o greixos, empremtes digitals, taques de sabó, taques de purins, taques d’epoxi / cola)

sistema d’inspecció d’hòsties

Marques / passos de serra

≤ 15µm

sistema d’inspecció d’hòsties

Arc

≤ 40 µm

sistema d’inspecció d’hòsties

Ordit

≤ 40 µm

sistema d’inspecció d’hòsties

Xip

profunditat ≤0,3mm i longitud ≤ 0,5mm Màxim 2 / pcs; sense xip en V

Ulls nus o sistema d’inspecció d’hòsties

Micro esquerdes / forats

No permès

sistema d’inspecció d’hòsties




Etiquetes populars: Hòstia solar monocristal·lina tipus m12, Xina, proveïdors, fabricants, fàbrica, fabricada a la Xina

Enviar la consulta
Enviar la consulta